Подписной индекс 10933 по каталогу российской прессы «Почта России»
Основан в июле 2005 г. Выходит четыре раза в год
Тихоокеанский государственный университет На главную Вестник ТОГУ

УДК 539.26:681.3.06

© В. В. Корчевский, Е. А. Жуков, Е. О. Киле, А. В. Сюй, 2012

ИСКЛЮЧЕНИЕ СИСТЕМАТИЧЕСКИХ ПОГРЕШНОСТЕЙ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ ШИРИНЫ ДИФРАКЦИОННЫХ ЛИНИЙ ЧИСЛЕННЫМИ МЕТОДАМИ

Корчевский В. В. – д-р физ.-мат. наук, проф. кафедры «Электротехника и электроника», тел. (4212) 37-51-85, e-mail: kvv@ele.khstu.ru; Жуков Е. А. – д-р физ.-мат. наук, проф. кафедры «Электротехника и электроника», тел. (4212) 37-51-85, e-mail: kvv@ele.khstu.ru (ТОГУ); Киле Е. О. – асп., тел. (4212) 40-76-14, e-mail: fizika@festu.khv.ru; Сюй А. В. – канд. физ.-мат. наук, проф. кафедры «Физика», тел. (4212) 40-76-14, e-mail: fizika@festu.khv.ru (ДВГУПС)

Рассмотрено использование численных методов для оценки систематических погрешностей измерения ширины дифракционных линий с помощью рентгеновского дифрактометра. Показана роль конструктивных особенностей дифрактометров в формировании систематических погрешностей.

Ключевые слова: рентгеновский дифрактометр, численные методы, систематическая погрешность.

Загрузить Загрузить статью (342.9 Кб)

Содержание Содержание